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本发明涉及属于硅片清洗技术领域，具体涉及一种太阳能硅片清洗后表面残留物的检测方法。所述检测方法包括以下步骤：将水溶性荧光粉添加至硅片清洗液中，硅片经超声波清洗和漂洗后，对待检硅片或水样滤纸进行紫外光谱分析，比对判断后记录分析结果。本发明在硅...
该专利属于浙江昱辉阳光能源有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浙江昱辉阳光能源有限公司授权不得商用。

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