温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。
本发明涉及一种空间微小碎片的探测方法，属于空间环境探测技术领域。探测薄膜由上到下包括俘获碎片层、过渡层和基底材料；俘获碎片层材料为１～４μｍ厚的Ａｕ；基底材料材料为１～３ｍｍ厚的石英玻璃，过渡层材料为５０～１００ｎｍ厚的Ｉｒ；将探测薄膜搭载...该专利属于中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所授权不得商用。