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本发明属于微波遥感及探测技术领域，为一种二维辐射成像方法，其成像系统由天线阵列和两块反射面构成。通过测量所有天线的相关输出，求解联系相关输出与余弦可见度的线性方程组求解余弦可见度，然后通过反余弦变换重建场景的亮温分布。该成像方法能够使用较少...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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