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本发明提供了一种扫描寄存器、包括所述扫描寄存器的扫描链、包括所述扫描链的可测试芯片以及测试所述可测试芯片的方法。所述扫描寄存器包括：输入单元，接收数据信号和扫描信号，并根据扫描使能信号来输出接收的数据信号或扫描信号；触发器单元，接收来自所述...该专利属于三星半导体（中国）研究开发有限公司;三星电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三星半导体（中国）研究开发有限公司;三星电子株式会社授权不得商用。