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本发明涉及一种用于测试密码电路的方法。本发明还涉及一种能够被测试的密码电路，该密码电路包括寄存器和逻辑门（２１１，２１２，２１３，２１４）。根据本发明，测试包括执行电路寄存器的差分功耗分析（ＤＰＡ）。在被保密并包括与工作在互补逻辑的第二半电...
该专利属于电信学院集团－国立高等电信学校所有，仅供学习研究参考，未经过电信学院集团－国立高等电信学校授权不得商用。

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