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本发明公开了一种新型全波段的ＣＣＤ检测器性能评价系统及其评价方法，该系统包括紫外可见段分光检测系统、ＣＣＤ检测器数据采集系统以及ＣＣＤ检测器性能评价系统；所述紫外可见段分光检测系统通过ＣＣＤ检测器数据采集系统与ＣＣＤ检测器性能评价系统相接。...
该专利属于上海光谱仪器有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海光谱仪器有限公司授权不得商用。

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