温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种将较大尺寸沟槽顶部直角改变成明显圆角的方法,包含以下步骤:1)在硅基片或硅外延层上刻蚀形成一系列沟槽;2)用卤化氢气体对沟槽顶部直角进行再刻蚀,使其形成钝角;3)在高温炉管内于沟槽内部及表面生长一层热氧化硅;4)用湿法刻蚀去...该专利属于上海华虹NEC电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海华虹NEC电子有限公司授权不得商用。
温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种将较大尺寸沟槽顶部直角改变成明显圆角的方法,包含以下步骤:1)在硅基片或硅外延层上刻蚀形成一系列沟槽;2)用卤化氢气体对沟槽顶部直角进行再刻蚀,使其形成钝角;3)在高温炉管内于沟槽内部及表面生长一层热氧化硅;4)用湿法刻蚀去...