下载利用多结单光子雪崩二极管(SPAD)像素的光子检测效率(PDE)调制的技术资料

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本发明涉及“利用多结单光子雪崩二极管(SPAD)像素的光子检测效率(PDE)调制。”一种感测器件包括感测元件阵列和偏置控制电路。该感测元件阵列中的每个感测元件包括:(i)光敏材料,该光敏材料被配置为响应于入射的光辐射而产生光电子;以及(ii...
该专利属于苹果公司所有,仅供学习研究参考,未经过苹果公司授权不得商用。

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