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本申请公开了一种基于FPGA的以太网物理层高效测试与精细化故障诊断方法，本方案绕过了耗时的网络层协议，通过在以太网物理层直接进行环回测试和性能验证，极大地缩短了单个端口的测试时间，从根本上解决了传统串行测试流程的效率瓶颈；另外，通过根据以太...
该专利属于中国科学院西安光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院西安光学精密机械研究所授权不得商用。

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