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本发明公开了热电器件的测试方法及测试装置,方法包括:根据测试脚本中的温度设定信息发送温度设定指令至黑体及控温组件以进行温度参数设定,发送距离设定指令至位移组件以设定距离参数及旋转角度,获取采集组件测量得到的检测值,发送移动指令至位移组件以推...该专利属于深圳市美思先端电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市美思先端电子有限公司授权不得商用。
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本发明公开了热电器件的测试方法及测试装置,方法包括:根据测试脚本中的温度设定信息发送温度设定指令至黑体及控温组件以进行温度参数设定,发送距离设定指令至位移组件以设定距离参数及旋转角度,获取采集组件测量得到的检测值,发送移动指令至位移组件以推...