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本发明提供一种材料表征图像分析系统及其分析方法。材料表征图像分析系统及其分析方法，包括以下步骤：S1：通过扫描电镜获取材料的背散射电子图像、二次电子图像及能谱数据，并基于预设的材料类型和观测目标，采用参数优化算法动态调整扫描电镜的加速电压、...
该专利属于北京科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京科技大学授权不得商用。

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