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光检测装置包括：第一光电转换元件，其布置在第一基底的光入射侧并且将入射光转换为电荷；以及第二光电转换元件，其布置为在所述第一基底内与所述第一光电转换元件重叠，并且包括用于倍增由光产生的载流子的倍增区域。...
该专利属于索尼半导体解决方案公司所有，仅供学习研究参考，未经过索尼半导体解决方案公司授权不得商用。

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