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本发明提供了基于计算机视觉的集成电路板芯片表面缺陷识别方法，属于图像处理领域，该方法包括：获取芯片图像，对像素点进行聚类，得到聚类簇，进而得到每一部件内的区域与边缘；将每一部件的边缘分为若干局部边缘；将每一部件的不同局部边缘进行对比，得到形...
该专利属于陕西中融国信电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过陕西中融国信电子科技有限公司授权不得商用。

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