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本发明属于缺陷检测相关技术领域，其公开了一种基于无监督架构级域自适应框架的工业表面缺陷检测方法及设备，步骤为：使用DINOv2视觉大模型辅助教师NAS分支为无标签的工业产品的表面图像生成混合伪标签，混合伪标签指导学生NAS分支进行NAS搜索...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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