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本发明公开了一种芯片管理方法、系统及存储介质，属于芯片管理技术领域。方法包括以下步骤：S1：将芯片和晶圆的管理数据录入数据库；S2：将测试数据与芯片的ID进行绑定并标注测试条件然后导入数据库；S3：在参数界面选择参数组，并筛选测试频率，然后...
该专利属于成都锐芯盛通电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都锐芯盛通电子科技有限公司授权不得商用。

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