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本技术公开了一种测试探针,包括探针本体,所述探针本体的顶部设置有可增加使用长度的调节机构,所述探针本体的表面设置有辅助插入测试的插入机构,所述探针本体外侧的顶部设置有踩踏测试的脚踩机构;所述调节机构包括增长组件和手持组件,所述增长组件设置于...该专利属于北京市鼎新新技术有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京市鼎新新技术有限责任公司授权不得商用。
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本技术公开了一种测试探针,包括探针本体,所述探针本体的顶部设置有可增加使用长度的调节机构,所述探针本体的表面设置有辅助插入测试的插入机构,所述探针本体外侧的顶部设置有踩踏测试的脚踩机构;所述调节机构包括增长组件和手持组件,所述增长组件设置于...