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本申请公开了缺陷检测系统及其探头诊断方法、计算机可读存储介质。该缺陷检测系统包括至少两个探头，探头诊断方法包括：从至少两个探头中确定待诊断探头；控制待诊断探头移动至探头检修区域；其中，探头检修区域设置有标准测试物品，其中，标准测试物品无缺陷...
该专利属于衡阳镭目科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过衡阳镭目科技有限责任公司授权不得商用。

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