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本发明属于冶金选矿相关技术领域，并公开了一种计算铜冶炼渣浮选率的方法，包括：采用X射线荧光光谱仪获取铜渣块体包含各类元素的图像数据；对不同元素的图像数据进行不同的颜色像素的提取，并获得仅保留颜色像素且背景区域被完全去除的图像；提取图像中的颗...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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