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本发明涉及半导体制造技术领域,具体为一种用于GaN纳米孔电化学腐蚀的外延层结构及电化学腐蚀方法,从下至上依次包括:蓝宝石衬底;底部uGaN层,未掺杂GaN,厚度1‑2μm;电流扩散层,Si掺杂浓度1×1019/cm3,厚度0.1‑0.5μm...该专利属于聚灿光电科技(宿迁)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过聚灿光电科技(宿迁)有限公司授权不得商用。
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本发明涉及半导体制造技术领域,具体为一种用于GaN纳米孔电化学腐蚀的外延层结构及电化学腐蚀方法,从下至上依次包括:蓝宝石衬底;底部uGaN层,未掺杂GaN,厚度1‑2μm;电流扩散层,Si掺杂浓度1×1019/cm3,厚度0.1‑0.5μm...