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本发明公开了一种高精度半导体测试分选方法及设备，属于半导体测试技术领域，包括：执行目标芯片的测试流程，将测试合格的目标芯片记为目标打标芯片，分析激光打标能量波动表征参量，确定激光打标系统的第一执行路径，结合激光打标能量波动表征参量执行激光打...
该专利属于乐安博远电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过乐安博远电子有限公司授权不得商用。

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