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本申请公开了一种自动绘制感兴趣区域的方法及相关产品，可应用于半导体技术领域，该方法包括：基于预设光学模式，获取待绘制晶粒的全晶粒图像；基于预设灰阶范围，确定所述全晶粒图像中的每一个像素点对应的目标灰阶；根据所述目标灰阶对每一个像素点进行分组...
该专利属于深圳中科飞测科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳中科飞测科技股份有限公司授权不得商用。

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