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本申请公开了一种集成电路测试激励的生成方法及相关设备，该方法通过对覆盖点代码文件和RTL文件解析，并根据覆盖点代码文件中的覆盖点和RTL文件中的逻辑关系得到触发各覆盖点的输入信号组合，进而根据输入信号生成测试激励。极大地减少了人工参与，提高...
该专利属于上海芯联芯智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海芯联芯智能科技有限公司授权不得商用。

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