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本申请公开了一种存储设备质量检测方法、装置、电子设备及存储介质，涉及计算机技术领域，包括以存储块为缺陷检测单位，对存储块中每个比特位的读写错误情况进行统计，即生成错误比特位分布图，最后通过分析错误比特位分布图表征的存储块缺陷范围，确定待测存...
该专利属于济南迈威智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过济南迈威智能科技有限公司授权不得商用。

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