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本发明提供了一种基于图像处理的芯片缺陷检测方法及系统，涉及芯片缺陷检测技术领域，方法包括：获取芯片的原始表面图像；对原始表面图像进行灰度处理，得到灰度表面图像；结合非对称拉普拉斯混合模型和连通域标记算法，提取灰度表面图像中芯片的多个引脚区域...
该专利属于深圳超盈智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳超盈智能科技有限公司授权不得商用。

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