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本技术公开了一种LPDDR芯片测试装置，本技术涉及LPDDR芯片测试技术领域，包括测试设备主体，所述测试设备主体的正面上方内嵌有显示屏，测试设备主体的正面下方开设有测试空腔，测试设备主体的正面下方内嵌有与测试空腔相连通的透明玻璃板，测试空腔...
该专利属于深圳市战峰科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市战峰科技有限公司授权不得商用。

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