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本发明涉及电子器件测试技术领域，尤其涉及基于多元化融合分析的高频高速开关测试系统，包括多元化测试中心、测试执行单元、获取响应单元、递进测试单元、区域定位单元、程度划分和标签获取单元以及测试反馈单元；本发明初步从测试前提条件角度进行初步分析，...
该专利属于苏州莱尔微波技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州莱尔微波技术有限公司授权不得商用。

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