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本发明公开了一种芯片老化测试系统及老化测试方法，所述芯片老化测试系统包括待测试芯片组和老化测试装置；所述待测试芯片组包括红光芯片、绿光芯片和蓝光芯片；所述老化测试装置包括高温试验箱体、数据采集模块和控制模块；所述待测试芯片组设于所述老化测试...
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