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本发明提供一种AFM‑IR检测铜箔表面硅烷含量和分布的方法。方法包括：1)采用AFM‑IR对涂覆硅烷偶联剂的铜箔表面任意点采集770～1800cm‑1纳米红外光谱，确定涂覆硅烷偶联剂的铜箔表面Si‑O的特征峰为1020cm‑1和1100cm...
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