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本申请提供半导体结构及其形成方法,所述半导体结构包括:半导体衬底,所述半导体衬底包括第一区域、第二区域和第三区域,所述半导体衬底还包括相互垂直的x方向和y方向,所述第一区域和第三区域的半导体衬底表面形成有若干沿x方向延伸的鳍片结构;若干第一...该专利属于北京知识产权运营管理有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京知识产权运营管理有限公司授权不得商用。
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