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用于半导体集成电路的测试插座组件的冷却系统和方法技术方案
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下载用于半导体集成电路的测试插座组件的冷却系统和方法的技术资料
文档序号:46491448
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提供一种用于测试半导体集成电路(IC)芯片的测试插座组件的冷却系统和方法。所述系统包括第一液位传感器和第二液位传感器,第一液位传感器配置为检测测试插座组件中的液态冷却剂的液位处于或高于第一阈值,第二液位传感器配置为检测所述液位处于或高于第二...
该专利属于史密斯互连美洲公司所有,仅供学习研究参考,未经过史密斯互连美洲公司授权不得商用。
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