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本发明提出了一种结合缺陷检测反馈的产品设计闭环优化方法，包括：数据收集：采集产品图像并标注实际缺陷，构建缺陷检测数据集；缺陷检测模型训练：训练第一深度学习模型得到缺陷检测模型；数据分析：使用缺陷检测模型并分析其检测结果，识别高频误检和漏检，...
该专利属于北京京仪仪器仪表研究总院有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京京仪仪器仪表研究总院有限公司授权不得商用。

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