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本申请提供基于OPC的STA时序分析优化方法、装置、介质、程序产品及终端，在提取寄生参数前获取版图数据，执行第一STA时序分析，快速定位关键路径，随后对关键路径实施光学邻近效应修正和拟合，生成高度拟合真实制造状态的版图，通过第二STA时序分...
该专利属于华芯程（杭州）科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华芯程（杭州）科技有限公司授权不得商用。

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