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本技术涉及封装芯片检测技术领域，公开了一种超大封装芯片检测用定位装置，包括封装芯片，所述封装芯片的一侧设有能够对封装芯片进行定位夹持的夹持组件，所述夹持组件的两侧均设有能够自由控制夹持组件对封装芯片夹持力度的控制组件；通过设置夹持组件和控制...
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