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本技术涉及直径检测设备技术领域，尤其涉及一种汞探针直径检测设备。技术问题：在检测设备使用的过程中，会因为大多仅采用直尺等工具进行检测，在长时间进行连续检测的过程中，由于汞探针缺乏锁紧定位机构，从而导致汞探针容易发生倾斜等现象的问题。技术方案...
该专利属于微著半导体科技（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过微著半导体科技（苏州）有限公司授权不得商用。

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