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本公开涉及双芯片控制系统的异常检测方法及装置。方法包括第一主芯片与第二主芯片基于第一输入输出线确定数据采集同步信息，在确定好数据采集同步信息后，第一主芯片与第二主芯片同步采集数据；第一主芯片对所采集的数据进行处理并打包形成第一数据包，同时第...
该专利属于湖州光码未来科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过湖州光码未来科技有限公司授权不得商用。

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