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本申请公开了用于光电探测器的测试系统以及测试方法，测试系统包括上位机、系统板以及测试组件，系统板被配置为与上位机以及测试组件均通信连接；测试组件被配置为与待测光电探测器通信连接，测试组件用于为待测光电探测器提供测试光线，以及用于接收待测光电...
该专利属于天芯互联科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过天芯互联科技有限公司授权不得商用。

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