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测试指示信息的生成方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸
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文档序号:46408061
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本申请公开了一种测试指示信息的生成方法、装置、电子设备及存储介质,涉及存储技术领域,包括:中央处理器在获取到目标数据的字偏移位置信息时,可以基于第一预设生成规则和预设字长度,生成位偏移位置信息,进而,基于位偏移位置信息和预设字长度,生成测试...
该专利属于济南迈威智能科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过济南迈威智能科技有限公司授权不得商用。
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