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本发明公开了一种基于强化学习的芯片封装测试生产线性能控制方法，涉及量子调控技术领域，包括，生成联合状态向量；将联合状态向量输入至预训练的强化学习策略模型，当检测到高风险状态时，触发因果干预标志，生成频段预留指令、强制禁用指令集和量子调控指令...
该专利属于弘润半导体（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过弘润半导体（苏州）有限公司授权不得商用。

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