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本发明涉及光学全息检测技术领域，具体涉及一种基于余弦调制的双曝光法检测玻璃微形变的方法。该方法通过分别记录玻璃变形前的光场和变形后的光场；对玻璃变形前的光场和变形后的光场通过同一参考光分别进行干涉，获取玻璃变形前对应的第一全息图，以及玻璃变...该专利属于中国人民解放军空军工程大学航空机务士官学校所有，仅供学习研究参考，未经过中国人民解放军空军工程大学航空机务士官学校授权不得商用。