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本发明公开了一种射频电源测试及性能优化方法，本发明涉及射频电源技术领域，解决了并未对不同数值状态下的噪声进行综合分析，便无法有效的识别出哪类数值噪声的干扰状态最低的问题，本发明通过将噪声限制范围细化为多个逐步变化的测试区间，每个区间均以1m...
该专利属于江苏神州半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏神州半导体科技有限公司授权不得商用。

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