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本发明涉及智能控制技术领域，具体地说，涉及一种基于数据分析与深度学习的多晶硅智能控制系统方法。其包括以下步骤：S1、基于传感器模块从工厂的40对棒和20对棒多晶硅生产工艺中采集数据，并进行大数据分析和数据清洗；S2、采用特征工程技术，提取出...
该专利属于昆明理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过昆明理工大学授权不得商用。

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