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一种半导体结构及其形成方法,其中结构包括:各栅沟道结构包括栅极、位于栅极内相互分立的若干第一沟道层和若干第二沟道层,若干第二沟道层位于若干第一沟道层上,若干第一沟道层平行于第一方向,且在第一方向上贯穿栅极,栅极暴露出各第一沟道层相对的两个第...该专利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中芯国际集成电路制造(上海)有限公司授权不得商用。
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一种半导体结构及其形成方法,其中结构包括:各栅沟道结构包括栅极、位于栅极内相互分立的若干第一沟道层和若干第二沟道层,若干第二沟道层位于若干第一沟道层上,若干第一沟道层平行于第一方向,且在第一方向上贯穿栅极,栅极暴露出各第一沟道层相对的两个第...