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本发明涉及电抗器故障模拟领域，尤其是一种单相双柱并联电抗器故障模拟装置及方法，装置主体为双硅钢片铁心柱结构，柱上绕制绕组，四周设铁轭。器身顶部用压紧螺栓压紧铁心柱；上、下铁轭及旁铁柱通过U型钢夹和夹紧螺栓紧固，各铁轭间由夹件上4根螺杆连接；...
该专利属于中国计量大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国计量大学授权不得商用。

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