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本发明涉及一种用于实现以太网PHY芯片的功能测试的测试系统，属于以太网收发器测试技术领域，解决了现有技术缺乏以太网PHY芯片测试方式的问题。所述测试系统包括：ATE测试台、FPGA和对测PHY芯片；ATE测试台存储待测PHY芯片的每一项以太...
该专利属于北京振兴计量测试研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京振兴计量测试研究所授权不得商用。

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