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本公开的各方面包括用于光谱解析来自样本中的荧光团的光的方法。根据某些实施例的方法包括：使用光检测系统检测来自包括具有重叠荧光光谱的多个荧光团的样本的光，以及使用广义最小二乘算法对来自样本中每个荧光团的光进行光谱解析。在一些实施例中，方法包括...
该专利属于贝克顿·迪金森公司所有，仅供学习研究参考，未经过贝克顿·迪金森公司授权不得商用。

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