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本发明提供一种离轴角精密测量方法，涉及光学测量技术领域，解决了现有技术中机械接触式测量法易划伤镜面、分辨率低，光学干涉法依赖昂贵元件且易受环境干扰，自准直仪转台法测量范围受限，以及激光跟踪仪多点标定法设备成本高、数据处理复杂等技术问题。其技...
该专利属于南通大学所有，仅供学习研究参考，未经过南通大学授权不得商用。

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