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本技术涉及芯片调试技术领域，公开了一种用于芯片调试的电路、系统和计算机，包括：开关模块、待调试芯片、平台路径控制器和通用接口；所述开关模块分别与所述待调试芯片、所述平台路径控制器以及所述通用接口相连接；所述待调试芯片还与所述平台路径控制器以...
该专利属于凌思微电子（杭州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过凌思微电子（杭州）有限公司授权不得商用。

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