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本技术公开了一种测试探针，包括设置在探针座上的探针组以及连接片；所述探针组包括结构相同的主探针组以及多个分探针组，所述分探针组包括电流探针以及位于其内部且同轴设置的电压探针，所述连接片包括与外部电源相连接的电流测试连接部以及集成部，多个所述...
该专利属于苏州梵探精密电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州梵探精密电子科技有限公司授权不得商用。

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