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本发明提供了一种光学合成孔径粗精两级共相误差检测方法，针对光学合成孔径中每两个孔径分别执行如下处理：对两孔径通过的两束光依次经过两个反射镜、马赫增德型合光干涉系统后反射出三部分光束，依次记为第一光束、第二光束和第三光束；其中第三束光为相位差...
该专利属于中国航天科技创新研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国航天科技创新研究院授权不得商用。

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