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本发明涉及一种用于在X射线衍射分析期间将包裹(G)中的对象(O)划定为分段(S)的分段方法，所述方法具有以下步骤：‑检测针对所述包裹(G)的多个体素(30)的脉冲透射函数(20)，‑将所检测的脉冲透射函数(20)与至少一个预定的材料函数(4...该专利属于史密斯探测德国有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过史密斯探测德国有限责任公司授权不得商用。
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本发明涉及一种用于在X射线衍射分析期间将包裹(G)中的对象(O)划定为分段(S)的分段方法，所述方法具有以下步骤：‑检测针对所述包裹(G)的多个体素(30)的脉冲透射函数(20)，‑将所检测的脉冲透射函数(20)与至少一个预定的材料函数(4...